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包括靜電放電抗擾度試驗(yàn)、電快速瞬變脈沖群抗擾度試驗(yàn)、輻射騷擾及傳導(dǎo)騷擾性能測(cè)試中經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的問題進(jìn)行了分析，并提出了相應(yīng)的改善手機(jī)電磁兼容性能的建議。1、靜電放電抗擾度試驗(yàn)1.1靜電放電抗擾度試驗(yàn)常見問題靜電放電抗擾度測(cè)試中出現(xiàn)的問題主要表現(xiàn)...

集成電路產(chǎn)品EMC測(cè)試系統(tǒng)是嚴(yán)格按照IEC61967和IEC62132系列進(jìn)行設(shè)計(jì)，整套系統(tǒng)的功能和性能不僅能夠滿足上述兩大類標(biāo)準(zhǔn)要求的測(cè)試項(xiàng)目。而且在系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)具有創(chuàng)新性、實(shí)踐可行性，滿足各類集成電路模塊、各類存儲(chǔ)芯片、各類電源管理芯...

防水試驗(yàn)箱的分類1.按防水等級(jí)（IPX標(biāo)準(zhǔn)）分類防水試驗(yàn)箱的核心分類依據(jù)是國(guó)際通用的IP防護(hù)等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)（如IEC60529、GB4208等），主要分為以下等級(jí)：IPX1-IPX3：模擬垂直滴水或傾斜15°滴水（如IPX1）及擺管噴淋（如IPX...

在電子技術(shù)飛速發(fā)展的當(dāng)下，各類電子設(shè)備層出不窮，電磁環(huán)境愈發(fā)復(fù)雜，電磁兼容（EMC）問題成為影響設(shè)備性能與穩(wěn)定性的關(guān)鍵因素。射頻傳導(dǎo)測(cè)試設(shè)備作為保障電子設(shè)備電磁兼容性的重要工具，憑借其諸多優(yōu)勢(shì)，在電子設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)與認(rèn)證過程中發(fā)揮著不可替代...

恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)在食食品存儲(chǔ)和運(yùn)輸過程中的關(guān)系？于食品行業(yè)，食品儲(chǔ)運(yùn)過程時(shí)間并不是一個(gè)短期問題，但食品保存中的相對(duì)平衡濕度也是保證食品的一項(xiàng)重要指標(biāo)，相對(duì)平衡濕度直接影響菌落的生長(zhǎng)。例如：在平衡相對(duì)濕度為95%RH至91%RH范圍內(nèi)，易于滋生...

在現(xiàn)代電子設(shè)備日益普及、電磁環(huán)境愈發(fā)復(fù)雜的今天，射頻傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試系統(tǒng)成為了保障電子設(shè)備穩(wěn)定性的關(guān)鍵防線。射頻傳導(dǎo)抗擾度測(cè)試系統(tǒng)主要用于評(píng)估電子設(shè)備在受到射頻場(chǎng)感應(yīng)的傳導(dǎo)騷擾時(shí)的性能穩(wěn)定性。它遵循IEC61000-4-6和GB/T17626...